浸银电路板蔓延腐蚀评估方法

摘要：

讨论了高硫环境中电路板浸银表面的蔓延腐蚀失效问题.发现焊盘与阻焊膜之间的相对位置关系影响了浸银层的覆盖程度,导致枝状腐蚀物的生成、蔓延长度及主要成分的不同.探讨了采用含硫粘土作为腐蚀源,驱动电路板浸银焊盘蔓延腐蚀的模拟实验方法.并采用两参数威布尔分布统计蔓延腐蚀物的长度,以特征长度定量评估浸银电路板抗蔓延腐蚀能力.分别研究了腐蚀时间、加热粘土次数和增加相对湿度对含硫粘土模拟方法的影响.提出了采用含硫粘土评估浸银电路板抗蔓延腐蚀的一般方法和对较恶劣工业环境的模拟方法.

关键词：浸银、蔓延腐蚀、硫化、评估

所属期刊栏目：26

分类号：TM207(电工材料)

资助基金：教育部留学回国人员科研启动基金和中央高校基本科研业务费资助项目

在线出版日期：2014-03-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：44-49