结核基因芯片技术在结核耐药快速检测中的应用效果分析

摘要：

目的 分析结核基因芯片技术在结核耐药快速检测中的应用效果.方法 选取2016年11月～2017年11月本院感染科收治的126例肺结核患者为研究对象.所有患者随机留取一份5 ml由肺深部咳出的晨痰标本.对痰标本均进行荧光定量分析以及基因芯片技术检测.结果 ①126例患者的痰标本中,经痰涂片发现阳性痰39例;经荧光定量试验发现阳性标本42例,非结核分枝杆菌两例,耐药标本10例,其中两例耐多药;基因芯片技术未检测到阳性标本40例,非结核分枝杆菌2例,无耐药标本8例,其中2例耐多药;因此可用于有效分析药敏结果40例;②基因芯片技术对涂阳肺结核耐多药患者与荧光定量分析检测结果比较差异无统计学意义;检测耐多药灵敏度为76.92%,特异度为96.27%,Kappa值为0.642,阳性预测值为47.6%,阴性预测值为98.95%.结论 基因芯片技术检测结核分枝杆菌耐药性,其检测结果与荧光定量分析试验高度一致,且耗时短,可弥补传统检测方法的不足.

关键词：基因芯片技术、结核病、耐药、快速检测

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在线出版日期：2018-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：84-86