EDS在涂层脱落界面含量异常的元素来源分析中的应用

摘要：

为分析某ZM5铸造镁合金产品表面抗烧蚀涂层脱落界面中含量异常的硫元素的来源,使用X射线能量色散谱仪(EDS)分别对底漆、涂层、遮蔽物、氧化镁保护层、铸造镁合金基体等5种可能会造成脱落界面硫元素含量异常的来源进行检测.最终确定氧化镁保护层是真正来源.给出了解决此问题的建议.

关键词：铸造镁合金、抗烧蚀涂层、脱落、界面分析、X射线能量色散谱仪、硫元素

所属期刊栏目：42

分类号：TQ639.8

在线出版日期：2023-02-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：76-82