扫描电镜及X射线能量散射谱分析镍氢电池极片

摘要：

用SEM和X射线能量散射谱(EDS)对多批次镍氢(MH/Ni)电池异物不良极片进行分析.用SEM找出异物所在的微区位置,在不同放大倍数下对异物的微观形貌进行观察:钴(Co)不良区域颗粒大小为1～10μm,呈条状结构;氧化锌(ZnO)不良区域颗粒大小≤1μm,呈方形结构;正常区域的Ni(OH)2颗粒大小为2～15μm,呈球形结构.用EDS对元素成分及分布情况进行分析,说明异物不良区域主要是由钴粉、氧化锌、铜颗粒和碳/氟等的聚集引起.

关键词：SEM、X射线能量散射谱(EDS)、镍氢(MH/Ni)电池、极片、异物分析

所属期刊栏目：50

分类号：TM912.2

在线出版日期：2020-04-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：98-101