温度和放电深度对钠硫电池欧姆内阻的影响

摘要：

钠硫电池的欧姆内阻与温度和放电深度(DOD)密切相关.通过不同温度下的脉冲放电实验,测量不同DOD时钠硫电池的欧姆内阻.除DOD为100％外,在某一固定DOD下,欧姆内阻随着温度的降低而增大.在某一固定温度下,DOD为0 ～7.14％时,随着DOD增加,β”-氧化铝陶瓷管外表面高阻抗的硫单质层被消耗,造成欧姆内阻逐渐减小;DOD为7.14％～ 85.70％时,欧姆内阻基本恒定;DOD为85.70％～100％时,随着DOD增加,电池负极有效反应面积减小,欧姆内阻急剧增大.DOD为7.14％ ～57.14％时,钠硫电池的开路电压为2.065～2.079 V,具有良好的功率特性.

关键词：钠硫电池、欧姆内阻、温度、放电深度(DOD)

所属期刊栏目：47

分类号：TM911.3

资助基金：上海市科学技术委员会科研技术项目15DZ2283101

在线出版日期：2017-10-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：69-71