基于过采样技术的磨加工主动测量控制仪设计

摘要：

以SILICON公司的8位单片机C8051F020为核心,采用KNY12864液晶屏和双色LED电子光柱作为显示器件,设计了一种新型磨床使用的主动测量控制系统。通过在磨加工零件尺寸信号电平上叠加三角波进行数据过采样,利用过采样技术在C8051F020芯片12位AD转换基础上获得了16位的分辨率,减小了量化误差,提高了信噪比。

关键词：过采样、分辨率、主动测量

所属期刊栏目：11

分类号：TP274.2(自动化技术及设备)

在线出版日期：2012-09-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：34-36,80