VLSIC的可靠性测试探讨

摘要：

针对超大规模集成电路(VLSIC)的可靠性测试问题进行了理论分析,叙述了VLSIC可靠性测试技术及特点,并对VLSIC可靠性测试的设计方法与改善进行了归纳总结.

关键词：VLSIC、可靠性、测试

所属期刊栏目：19

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2006-06-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：16-17,26