用X射线吸收谱对多元物质精细结构的研究

摘要：

基于EXFS的物理机制,我们用EXAFS研究多元物质中任一组元临近结构时,首先由测定的吸收谱求出精细结构函数X(k),根据X(k)确定结构参数.这种方法在结构研究中有其独到之处,本文根据"短程序理论"所构造的物理模型,对用透射法的结果的处理方法进行了深入讨论.

关键词：精细结构、短程序理论、结构函数、XAFS

所属期刊栏目：16

分类号：TG111.23(金属学与热处理)

在线出版日期：2006-09-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：69-73