新生儿低血糖引起脑损伤的临床特征及危险因素分析

摘要：

目的：观察新生儿低血糖脑损伤的临床特征及危险因素。方法回顾性分析123例新生儿低血糖病例资料，根据M RI、脑电图检查（EEG ）结果，将21例出现脑损伤的新生儿纳入观察组，102例无脑损伤的新生儿纳入对照组，比较两组新生儿围产期因素、临床表现及血糖检查的差异，多因素Logistic回归分析探讨新生儿低血糖脑损伤的危险因素。结果21例新生儿低血糖脑损伤M RI检查均有顶枕部皮层受累，DWI表现为高信号，17例T1 WI为低信号，T2 WI为高信号；惊厥、肌肉张力减低、呼吸异常多见，EEG多有异常。单因素分析显示胎龄、出生体质量、妊娠期糖尿病、首次喂养时间、惊厥、血糖水平、低血糖持续时间、EEG检查与新生儿低血糖脑损伤有关（P＜0．05）。多因素Logistic回归分析显示EEG异常、惊厥、低血糖持续时间大于24 h ，血糖水平小于或等于1．5 mmol/L与新生儿低血糖脑损伤有关。结论 EEG异常、新生儿惊厥、低血糖持续时间大于24 h、血糖水平小于或等于1．5 mmol/L是独立危险因素，应早期干预。

关键词：新生儿、低血糖、脑损伤、临床特征

分类号：R722(儿科学)

在线出版日期：2014-08-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：2505-2507