X线头影测量分析系统的研究现状

摘要：

@@ X线头影测量技术自1931年由Broadbent开创以来,便成为研究颅面生长发育、牙颌畸形机理的重要手段,在正畸与正颌外科临床与科研中一直具有重要作用.其历史发展可分为3个阶段:(1)手工描点与测量阶段;(2)计算机辅助测量分析阶段;(3)全自动X线头影测量分析系统阶段.下面就国内外在此项研究中的研究现状作一综述.

关键词：头影测量、软件、图像处理、计算机

所属期刊栏目：32

分类号：R816.1(放射医学)

资助基金：重庆市科委科研项目6052

在线出版日期：2004-01-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：1577-1579