10.3969/j.issn.1673-825X.2006.03.030
ZnF2:Ni2+晶体局域结构的理论研究
从光谱和EPR数据出发,用完全对角化方法确定了ZnF2:Ni2+晶体中的Ni2+-F-键长与键角,证实了ZnF2:Ni2+晶体的局域结构畸变的存在.研究结果表明:ZnF2:Ni2+晶体与ZnF2基晶的结构参数对比,发现掺杂Ni2+离子的ZnF2晶体分别产生了沿C2轴的伸长畸变和在xy平面的压缩畸变;光谱和EPR参量计算的理论值与实验值非常接近.
局域结构、光谱、EPR参量、ZnF2:Ni2+晶体、完全对角化
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O737(晶体物理)
四川省教育厅资助项目40712003;重庆工学院校科研和教改项目2005z077
2006-07-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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