高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用

摘要：

介绍了基于事务级验证的验证方法学(RVM)和覆盖率驱动技术,以及如何将RVM方法学和覆盖率驱动技术结合而搭建高效的验证平台,并详细分析了使用此验证平台对TD-SCDMA终端芯片进行完备和高效的RTL级功能验证.此验证平台比传统验证平台在效率上大大提高,有效地缩短了SoC芯片模块级和系统级的验证时间,缩短了3 SoC芯片的开发周期.

关键词：片上系统、待验证模块、验证方法学(RVM)、覆盖率驱动、RVM验证平台、引用模型

所属期刊栏目：18

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家科技攻关项目2004AA001390

在线出版日期：2006-07-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：299-302,316