基于频谱能量的材料晶粒尺寸表征方法

摘要：

研究了利用超声频谱能量对材料晶粒尺寸进行表征的方法。通过不同的热处理方式获得了不同晶粒尺寸的奥氏体不锈钢材料，再分别利用衰减系数法、声速法和频谱能量法对材料的晶粒尺寸进行表征。结果表明：频谱能量法得到的衰减系数与平均晶粒尺寸呈非线性关系，晶粒尺寸的预测误差在4％～15％以内，优于传统的分析方法，证明了新方法的有效性。

关键词：超声检测、晶粒尺寸、衰减系数、声速、频谱能量

分类号：TG115.28(金属学与热处理)

资助基金：北京高等学校青年英才计划资助项目YETP0373；“十二五”国家科技支撑计划资助项目2012BAF04B02

在线出版日期：2016-03-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：69-74