10.3969/j.issn.1001-4381.2006.09.013
Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷结构与介电性能的研究
采用高温固相烧结法制备了Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3(x=0.10,0.20,0.30,0.40,0.50)陶瓷,研究了Sr含量及烧结温度对Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷结构与介电性能的影响.XRD初步分析表明Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷在室温为立方钙钛矿结构.进一步的研究表明Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷的介电性能与对A位、B位进行的离子取代密切相关.随着Sr含量的增加,不同烧结温度下Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷的介电性能下降,相变温度Tc移向低温.尽管在所研究的组分范围内Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3表现出扩散相变铁电体的特征,但是典型的介电弛豫行为并没有被观察到.
Ba1-xSrxTi0.88Sn0.12O3陶瓷、烧结、介电性能、扩散相变、弛豫行为
TM22(电工材料)
国家自然科学基金50272052
2006-11-07(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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