10.3969/j.issn.1000-8829.2006.12.007
一种测量微波高Q谐振腔品质因数的新方法
传统的谐振腔品质因数扫频测量方法在实际测量时存在一定的限制.为此,针对微波高Q谐振腔,给出了一种测量其品质因数的新方法,该方法可以根据实测的谐振曲线灵活选取测量点,有效解决了传统方法中由于谐振腔受外电路影响导致测量误差较大的问题.采用该方法对一个微波高Q谐振腔进行测量,得到了较好的结果.
品质因数、谐振腔、微波测量、半功率带宽
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TM930
2007-01-22(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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