未来测试系统结构

摘要：

在测试领域大量测试系统结构的存在使选择很易混淆,为此,总结了现存测试系统结构(GPIB、PC、VXI和PXI)的特点,并提出了一种新的基于LAN的测试系统结构.对各种测试系统结构的价格、通道数、尺寸、I/O速度和适应性等进行了比较,其目的是为未来的应用中提供最有效的测试系统.

关键词：测试系统、结构、LXI(LAN、对仪器的扩展)

所属期刊栏目：25

分类号：TP274(自动化技术及设备)

在线出版日期：2006-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-5