X射线荧光光谱法分析石灰石中SiO2和CaO

摘要：

文章介绍采用压片法制样,X射线荧光光谱法分析石灰石中CaO和SiO2,通过自制标准试样,根据产地不同分别建立工作曲线,克服了压片法的基体效应和矿物效应,分析准确度和精密度进一步提高,分析周期短,时效性好.

关键词：X射线荧光光谱法、压片法、石灰石

所属期刊栏目：23

分类号：O657.32(分析化学)

在线出版日期：2021-03-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：27-29