钼圆表面缺陷的形成机理及质量控制

摘要：

为弄清钼圆表面黑斑和白点的产生原因,采用光学显微镜(OM)和扫描电镜(SEM)对其进行形貌分析,使用能谱仪(EDS)对表面缺陷进行了成分分析,以此为基础,对黑斑和白点的形成分别进行了模拟实验.结果表明,在氢气还原处理后的Mo粉中加入适量Fe/Ni/C和C/SiO2/CaO粉后,在钼圆表面分别发现了黑斑和白点.这说明Fe-Ni-C和C-O-Mo杂质是造成黑斑和白点的主因.因此,采取必要手段严格控制钼粉原料中Fe/Ni和C/O杂质的含量,是减少和消除黑斑和白点的根本途径.

关键词：钼圆、黑斑、白点、Fe-Ni-C杂质、C-O-Mo杂质

所属期刊栏目：20

分类号：TG316.15(金属压力加工)

资助基金：2018年国家级大学生创新创业训练计划项目"轻量化汽车用刹车片材料:高体积含量SiCp/Al复合材料的无压熔渗及性能研究"201811430084

在线出版日期：2018-12-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：17-20