期刊专题

10.16559/j.cnki.2095-2295.2016.01.005

靶基距对Mg掺杂TiO2薄膜厚度及结构的影响

引用
利用台阶仪、X-射线衍射仪分别研究了薄膜厚度及物相.实验结果表明:随着靶基距的减小,薄膜的厚度增加,而对于纯TiO2主峰的衍射峰强度增加;除了靶基距为4 cm的薄膜中有锐钛矿结构的MgTi2O5杂相之外,其它靶基距的薄膜均为TiO2的锐钛矿与金红石的混合相;在靶基距为6 cm时锐钛矿相TiO2的晶粒尺寸最大,大小为34 nm;在靶基距为7 cm时金红石相TiO2的晶粒尺寸最大,大小为11.5 nm.

TiO2薄膜、磁控溅射、靶基距

35

O469;O552.5(真空电子学(电子物理学))

国家自然科学基金;内蒙古自治区高等学校科学研究项目

2016-05-24(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

19-22

暂无封面信息
查看本期封面目录

内蒙古科技大学学报

2095-2295

15-1357/N

35

2016,35(1)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn