有限长LDPC码的打孔方案设计

摘要：

提出了一种有限长低密度校验码(LDPC码)的打孔方案.该方案以使码的平均girth最大化为准则,确定了打孔位的选取方法.仿真结果表明,与随机选取码位的方法相比得到了性能增益,降低了有限码长的误码地板,解决了LDPC码在实际系统应用中的打孔问题.

关键词：有限码长、低密度校验码、打孔

所属期刊栏目：30

分类号：TN393.01(半导体技术)

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2006AA01Z283;2006AA01Z260;高等学校学科创新引智计划项目B07005

在线出版日期：2008-04-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：135-138