10.3969/j.issn.1671-1513.2003.03.012
用偏振移相共路剪切干涉仪测量光学非球面
现代光学系统中大量使用了非球面元件,光学非球面表面面形精度要求高,一般不低于λ/4(λ=0.683 2μm),使得加工与检测难度极高.本文介绍了一种用于测量光学非球面透镜的偏振移相剪切干涉方法和数据处理方法,该系统具有测量精度高、调整方便、测量速度快、操作简单、对外界干扰不敏感等特点.
非球面、剪切干涉、偏振移相
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TH744.3(仪器、仪表)
北京市自然科学基金
2003-12-12(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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