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10.3321/j.issn:0479-8023.2006.03.020

钨针尖放电处理后的场发射特性

引用
在场发射显微镜(FEM)中使用1万伏以上的电压对钨针尖进行了放电处理.扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)的观察表明在处理后形成了纳米尺寸的突起.从经过处理的钨针尖能够支取高达1.55 mA的场发射电流.针尖的场发射像呈现四重对称,表明它来自单个突起.场发射电流与电压关系符合Fowler-Nordheim(F-N)理论.根据F-N理论算得的场发射面积与TEM下观察到的突起的面积在量级上一致.

钨针尖、场发射、电弧放电

42

O4(物理学)

国家自然科学基金60471008;60231010

2006-09-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共3页

385-387

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北京大学学报(自然科学版)

0479-8023

11-2442/N

42

2006,42(3)

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