典型胚胎电子系统结构与性能的数学描述方法

摘要：

为从数学角度分析和研究胚胎电子系统,提出了一种典型胚胎电子系统的数学描述方法.分析胚胎电子系统的结构特点和工作原理,建立电子系统的功能函数和工作状态函数.基于自修复能力和硬件消耗两个指标,建立电子系统的性能函数.利用建立的功能函数、工作状态函数和性能函数实现电子系统的数学描述,进而研究胚胎电子系统的功能判断、可靠性分析、性能评估、结构设计优化、自修复方式选择和预防性维修决策等.结果表明,胚胎电子系统的数学描述方法能够准确地对系统功能、性能和工作状态进行描述,从数学角度对胚胎电子系统开展理论研究.

关键词：电子系统、胚胎仿生、自修复、可靠性、硬件消耗、功能、性能、工作状态、数学描述

所属期刊栏目：39

分类号：TP302.7;Q811.2(计算技术、计算机技术)

资助基金：国家自然科学基金项目61601495

在线出版日期：2018-08-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共13页

页码：1339-1351