基于时域统计的非均匀校正算法

摘要：

提出从输入辐射和输出响应的概率密度函数角度分析红外焦平面阵列非均匀性问题,并以此建立基于时域统计特性的自适应非均匀校正算法.增益和偏移系数的漂移被看作是离散的缓慢变化的非平稳随机过程.反映输出响应概率密度函数特性的时域直方图被用来计算探测元的增益和偏移系数;自回归模型被用来对未来的增益和偏移系数进行预测.与直接存储图像数据相比,采用时域直方图存储图像的统计信息可以节约大量的存储空间,而且获得时域直方图的方法也非常简单.把算法设计成流水线结构,便可以实现实时的自动漂移补偿的红外热成像系统.真实的红外实验数据说明该算法有显著的非均匀校正效果.

关键词：信息处理技术、红外焦平面阵列、非均匀校正、时域直方图、自回归滑动平均模型

所属期刊栏目：27

分类号：TN215(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2006-10-25（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：831-835