X射线探伤方法在不等厚焊接接头中的应用

摘要：

在不等厚对接接头射线探伤中,底片经常出现黑度不均匀、边蚀效应严重、底片质量欠佳现象,从而干扰评片人员对缺陷的正确判定.如何选择最佳参数以获得较好底片质量是探伤人员面临的问题.

关键词：不等厚焊接接头、射线探伤、黑度范围、管电压

分类号：TG115(金属学与热处理)

在线出版日期：2016-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页码：39-43