期刊专题

10.13290/j.cnki.bdtjs.2022.10.007

车用SiC半桥模块并联均流设计与试制

引用
SiC芯片并联均流是影响车用SiC半桥模块可靠性的关键问题.寄生电感的不一致是造成芯片间电流不均衡的主要原因.首先,在ANSYS Simplorer中建立了芯片双脉冲仿真电路,分别研究了漏极、源极和栅极寄生电感对芯片间均流性的影响.然后,采用混合优化的均流方法设计并制作了一个多芯片并联的SiC半桥模块,其中,功率端子采用双端结构以减小寄生电感;栅极采用开尔文连接结构以提高芯片开关速度;对芯片位置进行优化使各并联回路的寄生电感尽可能均匀分布.在ANSYS Q3D中提取的主回路寄生电感为6.5 nH;在Simplorer中进行仿真,电流不均衡度小于3%.实物测试结果表明,主回路寄生电感为10 nH,电流不均衡度小于5%,验证了该车用SiC半桥模块并联均流设计的可行性.

SiC金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)、并联均流、寄生电感、直接覆铜(DBC)基板、封装结构

47

TN386.1;TN45(半导体技术)

湖南省教育厅科学研究重点资助项目20A163

2022-11-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共9页

809-816,838

暂无封面信息
查看本期封面目录

半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

47

2022,47(10)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn