基于T861测试系统的皮安级漏电流测试方法

摘要：

目前模拟开关的漏电流已达到皮安级,而传统的模拟集成电路测试系统的最小测量精度一般为纳安级,无法满足测试要求.研究了基于宏邦T861数模混合集成电路测试系统的皮安级漏电流测试方法.以ADG436型模拟开关电路为例,利用I-V转换方法设计了基于T861测试系统的漏电流测试方案,实现了基于测试系统对模拟开关皮安级漏电流进行测试.与使用安捷伦B1500A对ADG436电路的漏电流测试结果进行了对比,两者一致性较好.实验结果表明,基于T861测试系统的I-V转换方法测试模拟开关的漏电流具有较高的测量精度,能够满足ADG436型模拟开关的皮安级漏电流测试需求.

关键词：模拟开关、I-V转换、T861、漏电流、ADG436

所属期刊栏目：43

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-12-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：876-880