电源管理IC失效模式验证及定位方法

摘要：

电源管理集成电路(IC)的自动测试机(ATE)测试故障主要包括连续性失效、直流参数测试失效、交流参数测试失效和功能测试失效.ATE测试适用于大规模量产的不良产品的筛选,但是将ATE测试结果直接应用于失效分析依然存在覆盖局限性问题.针对不同功能测试结果,采用了不同的失效模式验证和分析方法.综合运用I-V曲线测试仪、示波器、函数发生器等仪器进行失效模式验证;使用微光显微镜、光诱导电阻变化仪器进行缺陷的失效定位;并借助电路原理图、版图进行故障假设;分析由过电应力、静电放电损伤、封装缺陷等导致的物理损伤;最终揭示了电源管理IC功能失效的主要原因.

关键词：失效定位、功能测试失效、自动测试机(ATE)、微光显微镜(EMMI)、光束诱导电阻变化(OBIRCH)

所属期刊栏目：43

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

在线出版日期：2018-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：394-400