整流二极管瞬态HTIR测试

摘要：

整流器件在高温下的漏电流(HTIR)对其工作中的可靠性有重要影响.目前对整流二极管HTIR的测试只限于稳态测试.由于其测试效率低下,不适于制造过程中的快速筛选.利用电流脉冲对整流二极管的pn结瞬态加热并在其后进行快速测试的方法,进行了瞬态HTIR筛选测试实验.与稳态测试进行了对比,结果表明:当瞬态HTIR测试值作为筛选条件确定后,筛选精度与结温以及导致该结温的瞬态加热条件有关,较高的结温有利于提高筛选精度.

关键词：整流二极管、高温漏电流(HTIR)、筛选、结温、瞬态加热

所属期刊栏目：38

分类号：TN313.5(半导体技术)

在线出版日期：2013-12-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：873-876