再布线圆片级封装板级跌落可靠性研究

摘要：

再布线圆片级封装通过对芯片焊区的重新构造以及无源元件的集成可以进一步提升封装密度、降低封装成本.再布线圆片级封装器件广泛应用于便携式设备中,在实际的装载、运输 和使用过程中抗冲击可靠性受到高度重视.按照JEDEC标准对再布线圆片级封装样品进行了板级跌落试验,首先分析了器件在基板上不同组装点位的可靠性差异；然后依次探讨了不同节距和焊球尺寸、再布线结构对器件可靠性的影响；最后,对失效样品进行剖面制样,采用数字光学显微进行形貌表征.在此基础上,结合有限元分析对再布线结构和铜凸块结构的圆片级封装的可靠性和失效机理进行深入地阐释.

关键词：圆片级封装(WLP)、再布线层(RDL)、板级跌落、失效分析、有限元分析(FEA)

所属期刊栏目：38

分类号：TN305.94(半导体技术)

资助基金：国家科技重大专项资助2011ZX02602

在线出版日期：2013-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：702-708