基于PFA的IGBT键合线失效机理及寿命预测

摘要：

为合理解释电动汽车中绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块引线键合失效机理并有效预测其寿命,提出了基于失效物理分析(PFA)的IGBT模块键合引线的快速寿命预测方法.首先,分析了IGBT模块引线键合的失效机理,确定了有效评估失效的参数.其次,借助热阻抗曲线计算方法得到了IGBT模块内部温度分布,并提出了快速功率循环测试电路的实现方法.最后,对提出的方法进行了失效物理分析并进行了实验验证.实验结果表明,这种方法合理解释了引线键合失效机理,并能对IGBT模块键合引线的寿命进行有效的预测,因此具有可行性和可靠性.

关键词：电动汽车、绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块、失效物理分析(PFA)、键合引线、寿命预测

所属期刊栏目：38

分类号：TN322.8(半导体技术)

在线出版日期：2013-10-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：681-684,690