基于加速退化晶体管贮存寿命的评估

摘要：

为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究.通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命；给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命.最后分析了试验样品性能参数退化的原因.试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考.

关键词：加速退化试验、晶体管、恒温恒湿、Peck模型、贮存寿命

所属期刊栏目：38

分类号：TN322.8;TN306(半导体技术)

在线出版日期：2013-08-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：551-555