集成电路可测性设计IO复用方法

摘要：

超大规模集成电路特征尺寸逐步缩小的发展过程中,芯片面积是制约芯片成本的最重要因素之一,也是直接影响半导体产品市场竞争力的最重要因素之一.本文介绍了将所有可测性设计(DFT)的输入输出端口(IO)与各种类型的正常功能工作模式的IO复用的方法,从而达到减少IO并最终减小芯片面积的目的.介绍了输入信号和输出信号分别在单向端口IO和双向端口IO中复用的方法.然后,以一款经过0.18 μm逻辑工艺流片验证的flash存储器控制芯片为例,对比了采用IO复用方法前后芯片的利用率和面积,证明了方案的可行性和有效性.

关键词：面积、输入输出端口、复用、可测性设计、测试模式选择

所属期刊栏目：36

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：北京工业大学博士科研启动基金X0002019201102

在线出版日期：2012-01-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：705-709