期刊专题

10.3969/j.issn.1003-353x.2011.07.004

大气与真空下功率VDMOS散热特性研究

引用
针对功率VDMOS真空下壳温显著升高的问题,对安装叉指形散热器的功率VDMOS进行了三维建模和温度场模拟分析,研究了其在大气与真空环境下的散热模型.真空环境下功率为10 W、散热片面积为278.42 cm2时,VDMOS壳温较大气下升高了89.8℃.找出了VDMOS大气及真空下壳温与工作功率及散热器表面积之间存在的关系,并进行了相应实验,利用公式计算出的器件壳温与实验壳温的最大差值,大气下不超过2℃、真空下不超过3℃,皆未超过5%,该公式可以作为功率VDMOS应用及热设计的参考依据.分析了真空环境下,功率VDMOS壳温显著升高的原因,并提出了改善措施.

热分析、功率VDMOS、真空、可靠性、热设计

TN386(半导体技术)

高等学校博士学科点专项科研基金20091103110006

2011-11-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共6页

510-515

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

2011,(7)

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