10.3969/j.issn.1003-353x.2009.12.006
MEMS器件封装的低温玻璃浆料键合工艺研究
玻璃浆料是一种常用于MEMS器件封装的密封材料.系统研究了MEMS器件在低温下使用玻璃浆料键合硅和玻璃的过程.与大多数MEMS器件采用的玻璃浆料相比(烧结温度400℃以上),此工艺(烧结温度350℃)在键合完成后所形成的封装结构同样具有较高的剪切强度(封装器件剪切强度大于360 kPa),同时具有较好的气密性(合格率达到93.3%),漏率测试结果符合相关标准.结果表明,在保证MEMS器件封装剪切强度和气密性的同时,降低键合温度条件是可以实现的.
微机电系统、气密封装、玻璃浆料键合、低温、圆片级封装
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TN305.94(半导体技术)
江苏省自然科学基金BK2009112
2010-02-23(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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