模拟电路的振荡测试技术

摘要：

集成电路设计和制造技术的发展给电路测试带来了巨大的挑战,其中模拟电路的测试是电路测试的难点.目前在这一领域有许多致力于降低测试难度,节约测试成本的研究.介绍了一种称为"振荡测试"的模拟电路测试技术,从振荡电路的构造、测试响应的测量和分析等方面综述了振荡测试技术的研究现状,同时总结了振荡测试技术的优点,分析了当前存在的局限性,并对将来的发展进行了展望.

关键词：集成电路测试、模拟电路、振荡测试

所属期刊栏目：33

分类号：TN45(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家重点基础研究发展计划（973计划）;国家自然科学基金;高等学校博士学科点专项科研基金

在线出版日期：2008-11-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：845-849