基于噪声奇异性的光耦器件爆裂噪声检测新法

摘要：

为了准确客观地检测出爆裂噪声的存在,提出了基于噪声信号奇异性的光耦器件爆裂噪声检测方法.通过对光耦器件噪声样本的计算发现,含有大量爆裂噪声的样本,其平均H(o)lder指数接近于0,反映到局部奇异性指数分布直方图中,其最可几率所对应的h值也在0值附近.而不合爆裂噪声的样本平均H(o)lder指数则在-0.3附近.实验证实了奇异性检测方法可以明晰地区分良品组与次品组光耦器件.噪声奇异性参数可以作为爆裂噪声是否存在的客观依据.

关键词：光耦器件、爆裂噪声、光耦噪声筛选、噪声奇异性

所属期刊栏目：33

分类号：TN306;TN36(半导体技术)

资助基金：陕西省自然科学基金;中国博士后科学基金

在线出版日期：2008-07-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：404-408