SOC测试结构优化研究

摘要：

结合SOC测试结构的特点,采用量子进化算法对SOC测试结构进行优化.通过对量子进化算法中群体尺寸、旋转角度的合适设定,达到减少SOC测试所用时间的目的.针对国际SOC标准电路验证表明,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间.

关键词：量子进化算法、测试结构、系统芯片、量子门

所属期刊栏目：32

分类号：TN47(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金;广西自然科学基金

在线出版日期：2007-07-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：528-531