10.3969/j.issn.1003-353X.2007.06.004
ICP技术在化合物半导体器件制备中的应用
介绍了ICP刻蚀工艺技术原理和在化合物半导体器件制备中的应用,包括ICP刻蚀技术中的低温等离子体的形成机理、等离子体与固体表面的相互作用等,并对影响ICP刻蚀结果的因素进行了分析.研究了不同的工艺气体配比、腔体工作压力、ICP源功率和射频源功率对刻蚀的影响,并初步得到了一种稳定、刻蚀表面清洁光滑、图形轮廓良好、均匀性较好和刻蚀速率较高的干法刻蚀工艺.
等离子体、感应耦合等离子、刻蚀
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TN405.982(微电子学、集成电路(IC))
2007-07-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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