期刊专题

10.3969/j.issn.1003-353X.2007.01.009

pH值对铌酸锂晶片抛光速率及抛光表面的影响

引用
采用化学机械抛光方法,自制碱性抛光液对铌酸锂晶片进行抛光,通过试验得出适宜铌酸锂晶片抛光的pH值,配合压力、流量等外界参数可以得到较高的表面质量和较快抛光速率.分析了铌酸锂晶片在碱性条件下的去除机理和抛光液的pH值及抛光液中各个组分对抛光速率和表面质量的影响.

铌酸锂、化学机械抛光、pH值

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TN3(半导体技术)

2007-03-05(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

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半导体技术

1003-353X

13-1109/TN

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2007,32(1)

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