可演化TMR容错表决电路的设计研究

摘要：

在高温、辐射等恶劣环境下微电子设备的可靠性要求越来越高,利用演化硬件(EHW)原理,将EHW技术与三模块冗余(TMR)容错技术相结合,在FPGA上实现可演化的TMR表决电路,使硬件本身具有自我重构和自修复能力,大大提高了系统的可靠性.

关键词：演化硬件、三模冗余、现场可编程门阵列

所属期刊栏目：31

分类号：TN4(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：中国科学院项目（非规范项目）;中国科学院项目（非规范项目）

在线出版日期：2006-06-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：370-373