IC测试原理

摘要：

@@ 1引言
本系列一共四章,下面是第一部分,主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理,内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语.

机标关键词：测试原理

所属期刊栏目：31

分类号：TN3(半导体技术)

在线出版日期：2006-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：284-286