运算放大器和电压比较器测试技术的实践应用

摘要：

针对半导体集成电路运算放大器失效模式指出了其测试方法,通过分解半导体集成电路运算 (电压)放大器、电压比较器测试电原理图,说明了该类器件的一些主要性能参数测试原理,介绍了在生产实践中测试技术应用方法和注意事项,提出了生产单位怎样建立完整的运算放大器IC测试系统的构想.

关键词：运算放大器、交直流参数、测试原理、计算机测试系统

所属期刊栏目：31

分类号：TN722.7;TN407(基本电子电路)

在线出版日期：2006-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：280-283