透射电子显微镜对接膜样品的制作

摘要：

在透射电子显微镜(TEM)样品制作中,对接膜样品制作最为复杂,同时得到的薄膜信息也非常多,是进行材料研究的一个非常有用的观测方法.并介绍了这种样品的制作过程和样品的测试分析情况.

关键词：透射电子显微镜、高分辨率透射电子显微镜、选区电子衍射

所属期刊栏目：31

分类号：TB303;TN307(工程材料学)

资助基金：中国科学院项目（非规范项目）;辽宁省科学项目

在线出版日期：2006-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：29-30,25