Blu-Ray DVD芯片的测试挑战

摘要：

本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构,以及量产时缩短测试时间,减少测试成本的方法.

机标关键词：混合信号测试、测试成本、测试需求、测试方案、测试时间、单芯片

所属期刊栏目：30

分类号：TN407;TP311.52;TN92

在线出版日期：2005-03-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：01-02