SOC的低功耗快速测试

摘要：

SOC由多个芯核组成,它的测试可以分为系统级和芯核级来解决,也可以从电路结构和测试算法两个方面来进行.测试时间长,测试数据量大,测试功耗高是系统芯片测试的难题.解决这些问题的途径主要有:基于软件和硬件协同测试的方法;对测试向量进行处理的方法;在测试电路中使用翻转较少的触发器的DFT结构;合理的划分片上的可测试资源.还给出了尚需进行的研究工作.

关键词：系统芯片、测试、IP芯核

所属期刊栏目：29

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：国家自然科学基金90207020

在线出版日期：2004-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：1-4,11