Agilent 93000上的高速信号测试模块BIST Assist 6.4

摘要：

@@ 1高速芯片及其测试
高速串行差动信号的传输在芯片设计和应用领域得到了越来越广泛的重视.如图1所示,在PC总线结构里有2.5GHz的PCI Express,还有1.5GHz的S-ATA,未来即将升到3GHz.芯片组的工作要基于大量的数据交互.随着主频和处理能力的提高,对总线上数据传输速度提出了更高的要求.

机标关键词：agilent、bist、高速信号、测试模块、信号测试、assist

所属期刊栏目：29

分类号：TS207.3;TP311.52;TN911.7

在线出版日期：2004-12-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：插1-插4