10.3969/j.issn.1003-353X.2001.05.008
用于ULSI的低K氟化非晶碳膜研究
综述了用于超大规模集成电路中互连介质的氟化非晶碳膜(a-C:F)的制备、化学键结构、介电常数与热稳定性、填隙能力、粘附性、热导率等性能,为开发具有新型功能的低介电常数材料提供了指导.
a-C、F薄膜、低介电常数、化学汽相淀积
26
O484.4(固体物理学)
国家自然科学基金69776026
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
26-30
10.3969/j.issn.1003-353X.2001.05.008
a-C、F薄膜、低介电常数、化学汽相淀积
26
O484.4(固体物理学)
国家自然科学基金69776026
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共5页
26-30
国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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