可用正偏二次击穿测量法验证大功率器件的可靠性

摘要：

介绍了一些比较简单的提高大功率器件可靠性的老化、筛选措施.

关键词：可靠性、二次击穿、老化、筛选

分类号：TN323+.4;TN306(半导体技术)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：38-42