10.3969/j.issn.1003-353X.1999.05.007
直接键合硅片的亲水处理及其表征
硅片直接键合(SDB)技术的关键在于硅片表面的亲水处理,本文分析了亲水处理之微观机理.从界(表)面物理化学角度讨论了接触角对硅片表面亲水性的表征及其准确测量方法,并测量了常用清洗液的接触角大小.
硅片直接键合、亲水处理、接触角
TN305.2(半导体技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共3页
23-25
10.3969/j.issn.1003-353X.1999.05.007
硅片直接键合、亲水处理、接触角
TN305.2(半导体技术)
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”
国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304
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